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上海儀電 原上海精科/上分 UV754N紫外可見(jiàn)分光光度計UV754N紫外可見(jiàn)分光光度計 是一種能適應現代分析實(shí)驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進(jìn)行各種定性定量分析需要的低價(jià)格、高性能的分光光度計。廣泛應用于環(huán)境保護、食品工業(yè)、石油化工、生物化學(xué)、大專(zhuān)院校及質(zhì)量控制等部門(mén)。
上海儀電 原上海精科/上分 UV754N紫外可見(jiàn)分光光度計
特點(diǎn)：
● 采用*全息閃耀光柵單色器，具有波長(cháng)精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點(diǎn)。
● 一鍵實(shí)現自動(dòng)調零和調滿(mǎn)度功能。
● 嚴密的工藝及元件選擇，保證儀器測量系統的低漂移和低噪聲，使儀器具有超群的測量讀數重現性和穩定性。
● 大屏幕字符型液晶顯示器。
● 數據打印和時(shí)間打印。
● 待定系數法和系數輸入法二種濃度線(xiàn)性回歸運算。
● *的自動(dòng)消除比色皿誤差功能。
● 配有高速熱敏打印機
● 配合軟件UVWin7使用，拓展儀器的使用功能。
● UVWin7軟件包（另購）。
主要技術(shù)指標：
● 波長(cháng)范圍；200nm～1000nm
● 波長(cháng)zui大允許誤差：±2nm
● 波長(cháng)重復性：≤1nm
● 透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5(T)/3min
上海儀電 原上海精科/上分 UV754N紫外可見(jiàn)分光光度計
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